在射線照相膠片中，人們通常在射線照相技術(shù)的參數(shù)上有很寬的選擇余地。例如，可以選擇源到樣品的距離，選擇膠片類型，選擇膠片密度，選擇x射線千伏，x射線或伽馬射線等。因此，所得到的x光片可以在高質(zhì)量和低質(zhì)量之間變化;在這種情況下，質(zhì)量意味著檢測(cè)小的關(guān)鍵缺陷(如裂縫)的能力。

為了確保高質(zhì)量的射線照片，已經(jīng)編寫了許多國(guó)家和國(guó)際的標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)技術(shù)細(xì)節(jié)的選擇給出建議或說明，通常測(cè)量圖像質(zhì)量的方法是在圖像中包含一些標(biāo)準(zhǔn)細(xì)節(jié)，這些細(xì)節(jié)將給出可測(cè)量的圖像質(zhì)量指示。這種設(shè)備被稱為“圖像質(zhì)量指示器(lQls)”，有時(shí)也稱為“穿透儀”。如果要在每一張x光片上使用，lql顯然必須體積小，制造成本相對(duì)較低，并且顯然應(yīng)該對(duì)x光攝影技術(shù)的變化盡可能敏感